专利名称：一种GIS设备X射线检测参数选取方法专利类型：发明专利
发明人：郭安祥,王嘉琛,丁卫东,王亚楠,李志闯,刘一树,周艺
环,吴子豪,王辰曦
申请号：CN201710324045.8申请日：20170508公开号：CN107290357A公开日：20171024
摘要：本发明公开一种GIS设备X射线检测参数确定方法，包括以下步骤：步骤一、焦距确定：采集X射线机焦点尺寸d和GIS设备外壁半径R；根据X射线机焦点尺寸d和GIS设备外壁半径R确定焦距F；步骤二、管电压确定：根据GIS设备的结构和尺寸确定X射线机使用的管电压；步骤三，管电流确定：根据X射线机管电压和管电流间的特性曲线，选取步骤二确定管电压所对对应的管电流；步骤四、曝光时间确定：根据曝光曲线或者根据选定的黑度和管电压确定曝光时间。本发明可以对GIS设备X射线检测所需的参数进行快速选择，减少由于经验判断导致的参数选择偏差问题；有效提高检测效率和稳定性。
申请人：国家电网公司,国网陕西省电力公司电力科学研究院,西安交通大学
地址：100031 北京市西城区西长安街86号
国籍：CN
代理机构：西安通大专利代理有限责任公司
代理人：陆万寿
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