专利名称：天线耦合测试装置专利类型：发明专利发明人：周黄弘亚,余秋庆申请号：CN200510083565.1申请日：20050711公开号：CN1896752A公开日：20070117
摘要：一种天线耦合测试装置，尤指用于测试—待测装置上的天线、由此得知该天线的功率、场效等测试值的测试装置，其中，该类待测装置为板状体型式。该测试装置包括：一在一侧处设有插槽、且该插槽相对于所述待测装置而利于插置的外壳；一设置于该外壳插槽内的绝缘材，其具有一容室、和一设于该容室内壁的金属片；及，一设于外壳另一侧的电连接器，该电连接器与所述金属片之间和该金属片与所述外壳之间均分别以电性连接。
申请人：智捷科技股份有限公司
地址：中国台湾新竹
国籍：CN
代理机构：隆天国际知识产权代理有限公司
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