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Zeta电位仪测试简化过程资料

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Zeta电位仪测试简化过程资料

Zeta电位仪测试简化过程

1、开启仪器(仪器的开关在设备的后⾯的右上部位),

将出现“嘟嘟”声,指⽰仪器已开启,开始初始化步骤;如果仪器完成例程,出现第⼆次“嘟嘟”声。将再次听到两次“嘟嘟”声,说明仪器已达到25°C的默认温度。因为本仪器为632.8激光光源,⼀般需稳定30分钟2、点击图标,启动Zetasizer软件

3、点击软件中 File – New - Measurement file,创建此次

测试⽂件,⼀经创建,本次测试的结果均⾃动保存在此⽂件中,⽆需另⾏保存。4、制备样品

5、将制备的样品注⼊样品池,粒径分布需1.0 ml—1.5 ml,Zeta点位测量⾄少需要1.0 ml。6、将样品池插⼊仪器中,等待温度平衡7、点击Start (),即进⾏测量。8、使⽤光盘拷取数据。使⽤注意事项测量粒径分布

1.测量粒径前,需查知样品分散剂的粘度、折光指数(Refractive Index)2.⽤卷纸轻轻点拭样品池外侧⽔滴,切勿⽤⼒擦拭,以防将样品池划伤,如发现样品池有划纹,需更换。

3.⼿尽量避免触摸样品池下端,否则会影响光路。4.⼀定要去除样品池内的⽓泡

5.实验室提供的样品池为聚苯⼄烯材质,不可⽤于测量有机分散体系6.实验室提供的样品池,测量温度不可⾼于50摄⽒度

7.如需测量有机分散体系或⾼于50摄⽒度,请⾃带⽯英⽐⾊⽫

8.使⽤滤纸过滤时,舍去过滤后的第⼀滴样品,以防滤纸上杂质进⼊样品池测量时需⾃带:卷纸、多个注射器、多个离⼼管(⽤于稀释样品)Zeta电位测量

1、测量粒径前,需查知样品分散剂的粘度、折光指数(Refractive Index)、介电常数(Dielectric constant)

2、⽤卷纸轻轻点拭样品池外侧⽔滴,尤其是两个塞⼦外侧3、⼀定要去除样品池内的⽓泡,尤其是电极上⽓泡4、如发现电极变⿊,需更换

5、实验室提供的样品池为聚苯⼄烯材质,不可⽤于测量有机分散体系6、实验室提供的样品池测量温度不可⾼于70度

7、使⽤滤纸过滤时,舍去过滤后的第⼀滴样品,以防滤纸上杂质进⼊样品池

测量时需⾃带:卷纸、多个注射器(5ml)、多个离⼼管(⽤于稀释样品)制备样品—粒径样品浓度

每个类型的样品材料,有最佳的样品浓度测量范围。

如果样品浓度太低,可能会没有⾜够的散射光进⾏测量。除极端情况外,对该仪器来说⼀般不会发⽣。

如果样品太浓,那么⼀个粒⼦散射光也会被其它粒离所散射(这称为多重散射)。

浓度的上限也要考虑到:在某⼀浓度以上,由于粒⼦间相互作⽤,粒⼦不再进⾏⾃由扩散。

⼩粒⼦需要考虑的事项最⼩浓度

对⼩于10nm的粒⼦,决定最⼩浓度的主要因素是样品⽣成的散射光强。实⽤的⾓度,这种浓度应⽣成最低光强为

10,000cp/s(10 kcps),这样才能超过分散剂的散射。作为⼀个指导,⽔的散射光强应超过10kcp的,甲苯的应超过100kcps。最⼤浓度

对⼩粒径的样品,最⼤浓度实际上不存在(以进⾏动态光散射(DLS)测量的术语来说)。但实际,样品的性质本⾝会决定此最⼤值。例如,样品可能有以下性质:

胶凝作⽤:凝胶不适合采⽤Zetasizer进⾏测量(这对所有基于动态光散射原理仪器都是事实)

粒⼦相互作⽤:如果粒⼦之间存在相互作⽤,那么粒⼦的扩散常数通常会改变,导致不正确的结果。应选择某⼀浓度避免粒⼦相互作⽤。⼤颗粒需要考虑的事项最⼩浓度

即使对⼤颗粒,知道最⼩浓度仍然是得到有效散射光强的保障,虽然我们还必须考虑“Number fluctuation”(数量—波动: 粒⼦浓度太低导致在光路中的粒⼦数量随时间较⼤波动)的附加效应。

例如,如果在低浓度(⽐如说0.001 g/l (10-4%))下测量⼀个⼤颗粒(⽐如说500nm)样品,⽣成的散射光⼤于进⾏测量的所需量。但是,散射体积中粒⼦数太⼩(⼩于10),在散射体积中会发⽣严重的粒⼦数量随时间波动。这些波动与所⽤计算⽅法中假设的类型不符,通常会被错误诠释为样品中的⼤颗粒。

必须避免此类波动,这决定了所要求浓度的下限和粒⼦数的下限。光路中⾄少应存在500个粒⼦,但推荐最⼩量为1000个粒⼦。参见下图:对假定密度为1 g/cm3的不同浓度溶液中,每散射体积中粒⼦数的估算图。

最⼤浓度

较⼤颗粒的样品浓度上限,由其引起多重散射的趋势决定。虽然Zetasizer对多重散射不是⼗分敏感,但随着浓度增加,多重散射效应越来越占优势,在达到某⼀浓度时,⽣成过多的多重散射,会影响测量结果。当然,如此⾼的浓度不应⽤于精确测量,上表中给出了不同粒径粒⼦最⼤浓度的粗略估算。

通⽤规则是,在多重散射和粒⼦相互作⽤影响结果之前,以可能的最⾼浓度进⾏测量。可以假定样品中的灰尘污染对⾼浓度和低浓度是相同的,因此样品浓度增加,从样品得到的散射光强相对灰尘散射光强有所增加。过滤

⽤于稀释样品(分散剂和溶剂)的所有液体,应于使⽤前过滤,避免污染样品。过滤器的粒径应由样品的估算粒径决定。如果样品是10nm,那么50nm灰尘将是分散剂中的重要污染物。⽔相分散剂可被0.2µm孔径膜过滤,⽽⾮极性分散剂可被10或20nm孔径膜过滤。

尽可能不过滤样品。过滤膜能通过吸附以及物理过滤消耗样品。只有在溶液中有较⼤粒径粒⼦如聚集物时,且它们不是所关⼼的成分,或可能引起结果改变,才过滤样品。运⽤超声波

可使⽤超声处理除去⽓泡或破坏聚集物—但是,必须谨慎应⽤,以便避免损坏样品中的原有粒⼦。使⽤超声的强度和施加时间⽅⾯,依赖于样品。矿物质如⼆氧化钛,是通过超声探头进⾏

分散的⼀个理想的例⼦,但是某些矿物质,如炭⿊,的粒径,可能依赖于所应⽤的功率和超声处理时间。超声甚⾄可使得某些矿物质粒⼦聚集。

乳状液和脂质体不得采⽤超声处理。制备样品— Zeta电位

Zetasizer Nano中⽤于Zeta电位测量的光学设置在第15章中讨论。使⽤⼀束激光作为光源,激光被⼀个分光镜分为⼀束⼊射光和⼀束参考光。参考光的光强在出⼚时设置,通常在2000⾄

3500Kcps之间。⼊射光穿过样品池的,散射光在向前的⾓度被检测。因此总的来说对于Zeta 电位测量的样品应该光学透明。最⾼和最低样品浓度可依赖于以下因素:粒⼦的光学性质粒⼦粒径粒⼦的分散度

在Zeta电位测量过程中,⾸先测量参考光的强度,并且显⽰在Log sheet中。随后检测散射光强度,并由衰减器调节散射光的强度⾄参考光源的1/10。举个例⼦说,如果参考光源的光强是2600kcps, 衰减器将会调节散射光强不⾼于260kcps.如第5章所述,仪器中的衰减器有11个位置,覆盖从100%⾄0.0003%透射率在Zeta电位测试过程中的最⼩光强为20kcps,低于此光强测试将中⽌。Zeta电位测试中的最低浓度

在Zeta电位测试过程中所需的最⼩光强为20kcps。因此最低浓度取决于相对折光指数差(粒⼦和溶剂间的折光指数差值)和粒⼦尺⼨。粒⼦的尺⼨越⼤所产⽣的散射光越强,所需的浓度也就越低。举例来说,氧化钛粒⼦的⽔性悬浮液。氧化钛的折光指数为2.5,与⽔的折光指数差较⼤,因此有较强的散射能⼒。因此对于300nm的氧化钛粒⼦,最⼩浓度可以为10-6 w/v %。对于折光指数差很⼩的样品,⽐如蛋⽩质溶液,最低浓度会⾼很多。通常最低浓度需要在0.1—1w/v %之间才能有⾜够的散射光强进⾏Zeta电位测量。

最终,对于特定样品进⾏⼀个成功的Zeta电位测量的最低浓度,应该由试验实际测量得到。Zeta电位测试中的最⾼浓度对于在本仪器的Zeta电位测量的最⾼浓度没有⼀个明确的答案。以上讨论的因素,如粒⼦的粒径,分散度,样品的光学性质,都应考虑。

Zeta电位测量过程中的散射光在向前的⾓度收集,因此激光应该能够穿过样品。如果样品的浓度

过⾼,则激光将会由于样品的散射衰减很多,相应的降低检测到的散射光光强。为了补偿此影响,衰减器会让更过的激光通过。

最终,样品的浓度范围必须由测定不同浓度下的Zeta电位的试验决定,由此来得到浓度对Zeta 电位的影响。

多数样品要求稀释,这个步骤在确定最终测量值中是⾄关重要的。对有意义的测量,稀释介质也是⾮常重要的。所给出的测量结果,如没有提及所分散的介质,则是没有意义的。Zeta电位依赖于分散相的组成,因为它决定了粒⼦表⾯的特性。稀释介质

⼤多数样品的分散相,可以归于两类之⼀:

介电常数⼤于20的分散剂被定义为极性分散剂,如⼄醇和⽔。

介电常数⼩于20的分散剂被定义为⾮极性或低极性分散剂,如碳氢化合物类、⾼级醇类。⽔相/极性系统

制备样品的⽬标,是在稀释过程中,保留表⾯的现存状态。只有⼀种⽅式保证这种情况。即通过过滤或离⼼原始样品,得到清澈的分散剂,使⽤这种分散剂稀释原有浓度样品。以这种⽅式,完美地维持了表⾯与液体之间的平衡。

如果提取上清液是不可能的,那么需让样品⾃然沉淀,使⽤上清液中留下的⼩粒⼦是⽐较好好的⽅法。使⽤Smoluchowski理论近似,Zeta电位不是粒径依赖性参数。

另⼀种⽅法是尽可能接近地模拟原始介质。需考虑下述条件:pH。

系统的总离⼦浓度。

存在的任何表⾯活性剂或聚合物的浓度⾮极性系统

在绝缘介质如正⼰烷、异链烷烃中,测量样品是极为不易。它要求使⽤universal dip cell(通⽤插⼊式样品池)。因为此样品池较好的化学兼容性以及电极间的狭窄空间,这对于不使⽤⾼电压时,⽣成较⾼磁场强度是必需的。

这种系统的样品制备,将遵照与极性系统相同样的规则。由于在⾮极性分散剂中,通常很少有离⼦以抑制Zeta电位,所测量的实际值似乎是⾮常⾼的,如200或250 mV。在这样的⾮极性系统中,稀释后样品的平衡呈时间依赖性,平衡时间可超过24⼩时。

弯曲式⽑细管样品池如下所述填充样品池:⽤注射器取⾄少1ml样品。将注射器与样品池⼀端连接。

将样品缓慢注射⼊样品池①,检查是否除去所有⽓泡。

如果在样品池端⼝下形成⼀个⽓泡,将注射器活塞拉回,使⽓泡吸回注射器体,再重新注射。⼀旦样品开始从第⼆个样品端⼝冒出,插⼊塞⼦②。移去注射器,插⼊第⼆个塞⼦③。

在样品池的透明⽑细区域,不应看到任何⽓泡。必要时,轻拍样品池以驱逐⽓泡。检查样品池电极是否仍然完全被样品淹没。移去溅在外部电极上的任何液体。

注意:

进⾏测量之前,必须配置塞⼦。粒径测量原理什么是动态光散射?

Zetasizer Nano系列使⽤称为动态光散射(DLS)的过程进⾏粒径测量。

动态光散射(也称为PCS —光⼦相关光谱)测量布朗运动,并将此运动与粒径相关。这是通过⽤激光照射粒⼦,分析散射光的光强波动实现的。

散射光波动如果⼩粒⼦被光源如激光照射,粒⼦将在各个⽅向散射。

如果将屏幕靠近粒⼦,屏幕即被散射光照亮。现在考虑以千万个粒⼦代替单个粒⼦。屏幕将出现如下所⽰的散射光斑。

散射光斑由明亮和⿊暗的区域组成,在⿊暗区域不能监测到光。

什么引起这些明亮区域和⿊暗区域?

下图显⽰粒⼦散射光的传播的波动。光的明亮区域是:粒⼦散射光以同⼀相位到达屏幕,相互叠加相⼲形成亮斑。⿊暗区域是:不同相位达到屏幕互相消减。

在上例中,我们说粒⼦是不运动的。在这种情况下,散射光斑也将是静⽌的—即散射光斑位置和散射光斑⼤⼩都是不变的。实际上,悬浮于液体中的粒⼦从来不是静⽌的。由于布朗运动,粒⼦不停地运动。布朗运动是由于与环绕粒⼦的分⼦随机碰撞引起的粒⼦运动。对DLS来说,布朗运动的⼀个重要特点是:⼩粒⼦运动快速,⼤颗粒运动缓慢。在Stokes - Einstein⽅程中,定义了粒径与其布朗运动所致速度之间的关系。

由于粒⼦在不停地运动,散射光斑也将出现移动。由于粒⼦四处运动,散射光的建设性和破坏性相位叠加,将引起光亮区域和⿊暗区域呈光强⽅式增加和减少—或以另⼀种⽅式表达,光强似乎是波动的。Zetasizer Nano测量了光强波动的速度,然后⽤于计算粒径。诠释散射光波动数据

我们知道,Zetasizer测量散射光的光强波动,并⽤于计算样品中粒径—但它如何进⾏⼯作的呢?在仪器中有⼀个部件叫数字相关器。在⼀段时间,⼀个相关器基本上测量了两个信号之间的相似程度。

如果我们将在某⼀时间点(⽐如说时间= t)将散射光斑特定部分的光强信号,与极短时间后(t+δt)的光强信号相⽐较,我们将发现,两个信号是⾮常相似的—或是强烈相关的。然后,如果我们⽐较时间稍提前⼀点(t+2δt)的原始信号,这两个信号之间仍然存在相对良好的⽐较,但它也许不如t+δt时良好。因此,这种相关性是随时间减少的。

现在考虑在“t”时的光强信号与随后更多时间的光强信号—两个信号将互相没有关系,因为粒⼦是在任意⽅向运动的(由于布朗运动)。在这种情况下,可以说这两个信号没有任何相关。使⽤DLS,我们可处理⾮常短的时间标度。在典型的散射光斑模式中,使相关关系降⾄0的时间长度,处于1—10毫秒级。“稍后短时”(δt)将在纳秒或微秒级。

如果我们将“t”时的信号强度与它本⾝⽐较,那么我们得到完美的相关关系,因为信号是同⼀个。完美的相关关系为1,没有任何相关关系为0。

如果我们继续测量在(t+3δt), (t+4δt), (t+5δt), (t+6δt)时的相关关系,相关关系将最终减⾄0。相关关系对照时间的典型相关关系函数如下所⽰。

使⽤相关函数得到粒径信息

相关关系函数如何与粒径相关?我们早先提到,正在做布朗运动的粒⼦速度,与粒径(粒⼦⼤⼩)相关(Stokes - Einstein⽅程)。⼤颗粒运动缓慢,⼩粒⼦运动快速。这对散射光斑有什么效应?如果测量⼤颗粒,那么由于它们运动缓慢,散射光斑的强度也将缓慢波动。

类似地,如果测量⼩粒⼦,那么由于它们运动快速,散射光斑的密度也将快速波动。

下图显⽰了⼤颗粒和⼩粒⼦的相关关系函数。可以看到,相关关系函数衰减的速度与粒径相关,⼩粒⼦的衰减速度⼤⼤快于⼤颗粒的。

在测量相关函数后,可以使⽤这个信息计算粒径分布。Zetasizer软件使⽤算法,提取针对⼀系列粒径类别的衰减速度,以得到粒径分布。

典型粒径分布图如下所⽰。X轴显⽰粒径类别分布,⽽Y轴显⽰散射光的相对强度。因此,这称为光强度分布。

虽然由DLS⽣成的基础粒径分布是光强度分布,但使⽤⽶⽒理论,可将其转化为体积分布(volumedistribution)。

也可进⼀步将这种体积分布转化为数量分布(Number distribution)。

但是,数量分布的运⽤有限,因为相关⽅程采集数据中的⼩错误将导致数量分布的巨⼤误差。光强)、Volume(体积)和Number(数量)分布Intensity(光强、体积和数量分布之间有什么差别?

说明光强、体积和数量分布之间差异的简单⽅式,是考虑只含两种粒径(5nm和10nm)、但每种粒⼦数量相等的样品。

下⾯第⼀个图显⽰了数量分布结果。可以预期有两个同样粒径(1:1)的峰,因为有相等数量的粒⼦。

第⼆个图显⽰体积分布的结果。50nm粒⼦的峰区⽐5nm(1:1000⽐值)的峰区⼤1000倍。这是因为,50nm粒⼦的体积⽐5nm粒⼦的体积(球体的体积等于4/3π(r)3)⼤1000倍。

第三个图显⽰光强度分布的结果。50nm粒⼦的峰区⽐5nm(1:1000⽐值)的峰区⼤1,000,000倍(⽐值1:1000000)。这是因为⼤颗粒⽐⼩粒⼦散射更多的光(粒⼦散射光强与其直径的6次⽅成正⽐—(得⾃瑞利近似)。

需要再说明的是,从DLS测量得到的基本分布是光强分布—所有其它分布均由此⽣成。Zetasizer Nano操作—粒径测量

典型的DLS系统由6个主要部件组成。⾸先是激光器①,⽤于提供照射样品池②内样品粒⼦的光源。⼤多数激光束直接穿过样品,但有⼀些被样品中的粒⼦所散射。⼀个检测器③⽤于测量散射光的强度。由于粒⼦向所有⽅向散射光,将检测器置于任何位置都是(理论上)可能的,都可以监测到散射。

对于Zetasizer Nano系列,依赖于仪器的型号,检测器位置将置于173°或90°。

散射光强必须在检测器的特定范围,以便成功进⾏测量。如果监测到太多的光,那么检测器可能会过载。为克服这个问题,使⽤⼀个“衰减器④”,降低激光强并因此降低散射光的光强。

对散射少量光的样品,如极⼩粒⼦或较低浓度样品,必须增加散射光量。在这种情况下,衰减器允许更多激光穿过样品。

对散射更多光的样品,如⼤颗粒或较⾼浓度样品,必须降低散射光量。这是通过使⽤衰减器降低穿过样品的激光量实现的。

在测量过程中,Zetasizer⾃动确定衰减器的适当位置。

将检测器的散射光强信号传递⾄数字信号处理板,此板称为相关器⑤。相关器在连续时间间隔内⽐较散射光强,得到光强变化的速率。

然后将相关器信息传递⾄计算机⑥,此处Zetasizer软件将分析数据并得到粒径信息。

173°检测光学构造—背散射检测Zetasizer Nano S和ZS可测量接近180°的散射信息。这称为背散射检测。背散射检测运⽤了称为NIBS(⾮侵⼊背散射)的专利技术。

为什么测量背散射?测量背散射有⼏个优点:

因为测量背侧散⾝,⼊射光束没有必要穿过整个样品。因为光只需穿过样品的较短路径长度,因此可以测量较⾼浓度的样品。

这降低了称为多重散射的效应;在多重散射中,来⾃⼀个粒⼦的散射光本⾝是其它粒⼦散射的。

与样品粒径⽐较,分散剂中的灰尘等污染物⽐较⼤。⼤颗粒主要在前进⽅向散射。因此,通过测量背散射,可⼤⼤降低灰尘效应。

多重散射效应在180o最⼩—同样,这允许测量较⾼浓度样品。可移动透镜

在Zetasizer Nano系统内,可移动透镜允许改变样品池内的聚焦位置。这允许测量更⼤范围的样品浓度。

测量位置由Zetasizer软件⾃动确定。90°检测光学构造—经典装置

Zetasizer Nano仪器范围中已包括90°型号即Zetasizer Nano S90和ZS90,提供与其它有90°检测光学构造的系统的连续性。这些模型不使⽤可移动测量装置,但使⽤“经典的”固定为90°的监测设置,即检测器和激光以样品池区中⼼为90°排列。这种配置降低了这些型号的可检测粒径范围。对测量范围,请参见附录A中的规格表。Zeta电位测量原理

Zetasizer Nano系列通过测量电泳迁移率并运⽤Henry⽅程计算Zeta电位。通过使⽤激光多普勒测速法(LDV)对样品进⾏电泳迁移率实验,得到带电粒⼦电泳迁移率。在随后的⼏节说明这些技术。Zeta电位和双电层

粒⼦表⾯存在的净电荷,影响粒⼦界⾯周围区域的离⼦分布,导致接近表⾯抗衡离⼦(与粒⼦电荷相反的离⼦)浓度增加。于是,每个粒⼦周围均存在双电层。

围绕粒⼦的液体层存在两部分:⼀是内层区,称为Stern层,其中离⼦与粒⼦紧紧地结合在⼀起;另⼀个是外层分散区,其中离⼦不那么紧密的与粒⼦相吸附。在分散层内,有⼀个抽象边界,在边界内的离⼦和粒⼦形成稳定实体。当粒⼦运动时(如由于重⼒),在此边界内的离⼦随着粒⼦运动,但此边界外的离⼦不随着粒⼦运动。这个边界称为流体⼒学剪切层或滑动⾯(slippingplane)。

在这个边界上存在的电位即称为Zeta电位。

Zeta电位的⼤⼩表⽰胶体系统的稳定性趋势。胶体系统是:当物质三相(⽓体、液体和固体)之⼀,良好地分散在另⼀相⽽形成的体系。对这种技术,我们对两种状态感兴趣:固体分散在液体中和液体分散在液体中即乳剂。

如果悬浮液中所有粒⼦具有较⼤的正的或负的Zeta电位,那么他们将倾向于互相排斥,没有絮凝的倾向。但是如果粒⼦的Zeta电位值较低,则没有⼒量阻⽌粒⼦接近并絮凝。稳定与不稳定悬浮液的通常分界线是:+30mV或-30mV。Zeta电位⼤于+30mV正电或⼩于-30mV负电的粒⼦,通常认为是稳定的。

影响Zeta电位的最重要因素是pH。没有引⽤pH值的Zeta电位值,本⾝实际上是没有意义的数字。想象悬浮液中的⼀个粒⼦,具有负Zeta电位。如果在这个悬浮液中加⼊更强碱,那么粒⼦将倾向于得到更多负电荷。如果在这个悬浮液中加⼊酸,将达到某⼀点,负电荷被中和。进⼀步加⼊酸,则导致在表⾯产⽣正电荷。因此,Zeta电位对照pH的曲线,在低pH时是正电的,⽽在⾼pH时较低正电或是负电的。

曲线通过零Zeta电位的点,叫做等电点(isoelectic point),在实际应⽤过程中是⾮常重要的。正常情况下它就是胶体系统最不稳定的点。Zeta电位对照pH的典型图⽰如下。

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