一种基于光学显微镜的石墨烯质量检测方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种基于光学显微镜的石墨烯质量检测方法专利类型：发明专利

发明人：郭雪峰,贾传成,江蛟龙申请号：CN201210241873.2申请日：20120712公开号：CN102749291A公开日：20121024

摘要：本发明公开了一种检测石墨烯生长质量的方法。所述检测方法包括下述步骤：1)对生长有石墨烯的Cu基底进行处理，使其表面未被石墨烯覆盖的区域发生颜色变化；2)调整光学显微镜的放大倍数或选用适当倍数的光学放大镜，直接在步骤1)处理后的Cu基底上观察石墨烯；3)根据步骤2)的实验结果确定石墨烯的生长情况，检测石墨烯生长质量，并为快速摸清石墨烯的生长工艺提供指导。本发明可利用光学显微镜或放大镜直接在生长基底上对石墨烯进行检测。该方法较为廉价、简便、快速，并可以从大的视野范围了解石墨烯的整体生长情况，对科研和实际生产中石墨烯的质量检测和生长工艺摸索有较大的意义。

申请人：北京大学

地址：100871 北京市海淀区颐和园路5号北京大学化学与分子工程学院

国籍：CN

代理机构：北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：关畅

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