利用光纤光栅传感器在低温下测量应变的方法[发明专利]

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专利名称：利用光纤光栅传感器在低温下测量应变的方法专利类型：发明专利发明人：黄国君,戴锋

申请号：CN200810057158.7申请日：20080130公开号：CN101221043A公开日：20080716

摘要：本申请公开一种利用光纤光栅传感器在低温下测量应变的方法，该方法包括步骤：a)选取长度为l的FBG基本元件；b)在被测的表面均匀涂敷低温粘合剂，该粘合剂覆盖的长度L大于FBG基本元件的长度l；c)将FBG基本元件粘结到被测表面，使FBG位于粘结区的中心区，此时，粘和长度L大于FBG基本元件的长度l，并包覆FBG基本元件；d)根据FBG中心波长的变化测量出被测元件应变的大小。由于上述方法，克服了多峰现象，也克服了长期以来认为多峰现象是由于光学机制而非力学机制造成的偏见，使FBG传感器在液氮等低温条件下对应变进行精确的测量。

申请人：中国科学院力学研究所

地址：100080 北京市海淀区北四环西路15号

国籍：CN

代理机构：北京中创阳光知识产权代理有限责任公司

代理人：尹振启

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