专利名称：X射线分析仪专利类型：外观专利发明人：杉江智哉
申请号：CN202030143403.8申请日：20200413公开号：CN306020606S公开日：20200828
专利附图：
申请人：株式会社岛津制作所
地址：日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
国籍：JP
代理机构：北京派特恩知识产权代理有限公司
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