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一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

来源：爱够旅游网

（19）中华人民共和国国家知识产权局

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201110384060.4 （22）申请日 2011.11.28

（71）申请人曙光信息产业(北京)有限公司

地址 100084 北京市海淀区水磨西街号

（10）申请公布号 CN102426861A

（43）申请公布日 2012.04.25

（72）发明人李静;张英文;纪奎;张磊;白宗元;窦晓光;李旭;刘朝辉（74）专利代理机构北京安博达知识产权代理有限公司

代理人徐国文

（51）Int.CI

G11C29/56;

权利要求说明书说明书幅图

（）发明名称

一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置

（57）摘要

本发明提供了一种测试DDR3数据有效窗

口的方法，先计算出DDR3的数据有效窗口大小，再根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位。本发明提供的测试DDR3数据有效窗口的方法，可在对DDR3内存的硬件设计之后，通过所述测试DDR3数据有效窗口的方法和装置测试出数据有效窗口大小，然后在对DDR3控制器设计中直接根据测试得到的窗口大小设置读时钟采样点位置，提

高了硬件设计的效率，降低了PCB的布局布线难度。

法律状态

法律状态公告日

2012-04-25 2012-06-06 2014-05-21

法律状态信息

公开

实质审查的生效授权

法律状态

公开

实质审查的生效授权

权利要求说明书

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说明书

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